[发明专利]射频测试装置及其测试方法有效

专利信息
申请号: 202110139401.5 申请日: 2021-01-28
公开(公告)号: CN114826435B 公开(公告)日: 2023-07-25
发明(设计)人: 曲峰;刘宗民;李伟;李必奇;范西超;郭俊伟;郭景文;王亚丽 申请(专利权)人: 北京京东方技术开发有限公司;京东方科技集团股份有限公司
主分类号: H04B17/00 分类号: H04B17/00
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 代理人: 魏艳新;姜春咸
地址: 100176 北京市北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 射频 测试 装置 及其 方法
【权利要求书】:

1.一种射频测试装置,其特征在于,包括:

分路模块,具有输入端、第一输出端和第二输出端,所述第一输出端用于连接第一待测试器件,所述第二输出端用于连接第二待测试器件的第一端;所述分路模块配置为,将所述第一输出端与所述第二输出端中的至少一者与所述输入端导通,且所述第一输出端的输出信号与所述第二输出端的输出信号的功率之和等于所述输入端的输入信号的功率;

测试仪,具有第一信号端和第二信号端,所述第一信号端与所述分路模块的输入端连接,所述第二信号端用于连接所述第二待测试器件的第二端;所述测试仪配置为,向所述第一信号端输出射频检测信号,并根据所述射频检测信号和所述第一信号端接收到的、来自所述第一待测试器件的信号,确定所述第一待测试器件的参数;以及,根据所述射频检测信号和所述第二信号端接收到的、来自所述第二待测试器件的信号,确定所述第二待测试器件的参数。

2.根据权利要求1所述的射频测试装置,其特征在于,所述分路模块具体配置为,将所述第一输出端和所述第二输出端依次与所述输入端导通。

3.根据权利要求2所述的射频测试装置,其特征在于,所述分路模块包括:

射频开关,所述射频开关具有第一射频端、第二射频端和公共端,所述公共端作为所述分路模块的输入端,所述第一射频端作为所述分路模块的第一输出端,所述第二射频端作为所述分路模块的第二输出端;

开关控制单元,与所述射频开关连接,所述开关控制单元配置为控制所述射频开关的公共端与所述第一射频端之间的通断,以及控制所述射频开关的公共端与所述第二射频端之间的通断。

4.根据权利要求1所述的射频测试装置,其特征在于,所述分路模块包括:功分器,所述功分器的输入端作为所述分路模块的输入端,所述功分器的两个输出端分别作为所述分路模块的第一输出端和第二输出端。

5.根据权利要求1至4中任意一项所述的射频测试装置,其特征在于,所述第一待测试器件为液晶天线,所述第二待测试器件为移相器;

所述射频测试装置还包括:第一偏置器和第二偏置器;其中,

所述第一偏置器的射频输入端与所述第一待测试器件连接,所述第一偏置器的直流输入端与第一直流电源端连接,所述第一偏置器的耦合端与所述分路模块的第一输出端连接;所述第二偏置器的射频输入端与所述分路模块的第二输出端连接,所述第二偏置器的直流输入端与第二直流电源端连接,所述第二偏置器的耦合端与所述第二待测试器件连接。

6.根据权利要求5所述的射频测试装置,其特征在于,所述射频测试装置还包括:第一隔直器,所述第一隔直器连接在所述测试仪的第二信号端与所述第二待测试器件的第二端之间。

7.根据权利要求5所述的射频测试装置,其特征在于,所述射频测试装置还包括:第二隔直器和第三隔直器,

所述第二隔直器连接在所述分路模块的第一输出端与所述第一偏置器之间;

所述第三隔直器连接在所述分路模块的第二输出端与所述第二偏置器之间。

8.根据权利要求5所述的射频测试装置,其特征在于,所述射频测试装置还包括:第一直流电源和第二直流电源,

所述第一直流电源端为所述第一直流电源的输出端,所述第二直流电源端为所述第二直流电源的输出端。

9.根据权利要求5所述的射频测试装置,其特征在于,所述射频测试装置还包括:双通道直流电源,所述第一直流电源端和所述第二直流电源端分别为双通道直流电源的两个输出端。

10.根据权利要求2所述的射频测试装置,其特征在于,所述射频测试装置还包括:

控制器,所述控制器与所述分路模块连接,所述控制器配置为,在不同时刻分别向所述分路模块提供第一控制信号和第二控制信号,所述第一控制信号用于控制所述分路模块的第一输出端与输入端导通,所述第二控制信号用于控制所述分路模块的第二输出端与输入端导通。

11.一种应用于权利要求1至10中任意一项所述的射频测试装置的测试方法,其特征在于,包括:

所述测试仪向所述第一信号端输出射频检测信号,并根据所述射频检测信号与所述第一信号端所接收到的、来自所述第一待测试器件的信号,确定所述第一待测试器件的参数;以及根据所述射频检测信号与所述第二信号端所接收到的、来自所述第二待测试器件的信号,确定所述第二待测试器件的参数。

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