[发明专利]一种X射线能谱联合测量谱仪及其实现方法有效
| 申请号： | 202110138009.9 | 申请日： | 2021-02-01 |
| 公开（公告）号： | CN112859146B | 公开（公告）日： | 2022-06-28 |
| 发明（设计）人： | 于明海;张强强;王少义;胡广月;谭放;闫永宏;杨月;张晓辉;吴玉迟;朱斌;谷渝秋 | 申请（专利权）人： | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心;中国科学技术大学 |
| 主分类号： | G01T1/36 | 分类号： | G01T1/36 |
| 代理公司： | 成都众恒智合专利代理事务所(普通合伙) 51239 | 代理人： | 钟显毅 |
| 地址： | 621000*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种X射线能谱联合测量谱仪，用于在同一方位上联合晶体衍射方法和滤片堆栈方法测量X射线能谱，包括前后依次共轴安装于屏蔽外壳内的辐射屏蔽模块、晶体衍射测谱模块和滤片堆栈测谱模块，以及用于对中的瞄准组件。本发明联合了晶体衍射和滤片衰减两种测谱方法，解决了现有技术无法同时实现高精度和大量程的技术难题，在单一视角内实现了高精度大量程的能谱测量，可用于诊断激光X射线源、X光管射线源等从keV至MeV的能谱数据。本发明具有测谱范围大，能谱分辨高，抗碎片打击，抗等离子体喷溅，占用空间立体角小，应用范围广等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 射线 联合 测量 及其 实现 方法 | ||
【主权项】：
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