[发明专利]存储器校准设备、系统和方法在审
| 申请号： | 202110102642.2 | 申请日： | 2021-01-26 |
| 公开（公告）号： | CN113178222A | 公开（公告）日： | 2021-07-27 |
| 发明（设计）人： | T·罗伊;A·格罗弗 | 申请（专利权）人： | 意法半导体国际有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/02 | 分类号： | G11C29/02 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人： | 王茂华 |
| 地址： | 瑞士*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本公开的实施例涉及存储器校准设备、系统和方法。系统包括有多个存储器单元的存储器阵列；耦合至存储器阵列的感测电路；与校准电路装置。测试数据模式被应用于存储器阵列，以基于第一感测电路响应于将测试数据模式应用于存储器阵列而提供的输出来生成校准信息。生成的校准信息以分布式方式存储在存储器阵列的存储器单元内。生成的校准信息的一些生成的校准信息可以与被存储在多个存储器单元中的数据值组合，作为对所存储的数据值进行一个或多个操作的部分。存储的数据值可以被存储在存储器阵列的存储器内计算集群中，使得对存储器的数据值进行操作包括：将存储器内计算集群的多个数据值与生成的校准信息的至少一部分组合。 | ||
| 搜索关键词： | 存储器 校准 设备 系统 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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