[发明专利]存储器校准设备、系统和方法

权利要求书

1.一种存储器校准系统，包括：

存储器阵列，包括多个存储器单元；

第一感测电路，被耦合至所述存储器阵列；以及

校准电路装置，所述校准电路装置在操作中：

将测试数据模式应用于所述存储器阵列；

基于由所述第一感测电路响应于将所述测试数据模式应用于所述存储器阵列而提供的输出，来生成校准信息；以及

以分布式方式将生成的所述校准信息存储在所述多个存储器单元中的至少一些存储器单元内；

其中在操作中、并且在以所述分布式方式存储生成的所述校准信息之后，所述第一感测电路被配置为将生成的所述校准信息的至少一部分与被存储在所述多个存储器单元中的一个或多个数据值组合，作为对存储的所述一个或多个数据值进行的一个或多个操作的部分。

2.根据权利要求1所述的存储器校准系统，其中存储的所述一个或多个数据值包括被存储在所述存储器阵列的存储器内计算集群中的多个数据值。

3.根据权利要求2所述的存储器校准系统，其中对存储的所述一个或多个数据值进行的所述一个或多个操作包括：将所述存储器内计算集群的所述多个数据值与生成的所述校准信息的所述至少一部分组合，作为针对所述存储器内计算集群的存储器内计算操作的至少部分。

4.根据权利要求2所述的存储器校准系统，其中生成的所述校准信息包括针对所述存储器内计算集群的偏移数据，并且其中以所述分布式方式存储生成的所述校准信息包括：将针对所述存储器内计算集群的所述偏移数据存储在所述存储器内计算集群的一个或多个存储器单元中。

5.根据权利要求4所述的存储器校准系统，其中将生成的所述校准信息的至少一部分与存储的所述一个或多个数据值组合包括：通过计算所述偏移数据与存储的所述一个或多个数据值的总和，来计算存储的所述一个或多个数据值的总和。

6.根据权利要求1所述的存储器校准系统，其中所述多个存储器单元被布置为与多列存储器单元相交的多行存储器单元，并且其中在操作中，所述存储器阵列包括一个或多个存储器内计算集群，所述一个或多个存储器内计算集群各自包括所述多列存储器单元中的一列或多列存储器单元。

7.根据权利要求6所述的存储器校准系统，包括：

多个第一计算电路，其中每个第一计算电路在操作中根据在所述多个存储器单元中的对应列存储器单元中的单元值，来计算计算值；

第一列复用器，所述第一列复用器在操作中循环通过多条数据线，所述多条数据线各自对应于所述多个第一计算电路中的第一计算电路；以及

第二感测电路，所述第二感测电路在操作中经由所述第一列复用器从所述多个第一计算电路获得所述计算值，并且在确定数目的复用器循环上，组合获得的所述计算值。

8.根据权利要求7所述的存储器校准系统，包括集群循环管理电路装置，所述集群循环管理电路装置在操作中基于存储了存储器内计算集群的数据的列数，来确定经确定的复用器循环的数目。

9.一种用于存储器阵列校准的方法，所述方法包括：

将测试数据模式应用于存储器阵列，所述存储器阵列包括多个存储器单元；

基于应用所述测试数据模式来生成校准信息，其中生成所述校准信息包括：分析由被耦合至所述多个存储器单元的感测电路响应于应用所述测试数据模式而提供的输出；

以分布式方式将生成的所述校准信息存储在所述多个存储器单元中的至少一些存储器单元内；以及

在以所述分布式方式存储生成的所述校准信息之后、并且作为对被存储在所述多个存储器单元中的一个或多个数据值进行的一个或多个操作的部分，将生成的所述校准信息的至少一部分与存储的所述一个或多个数据值组合。

10.根据权利要求9所述的方法，其中存储的所述一个或多个数据值包括：被存储在所述存储器阵列的存储器内计算集群中的多个数据值。