[发明专利]一种测量蜗轮副双啮误差的结构有效
| 申请号： | 202110071864.2 | 申请日： | 2021-01-20 |
| 公开（公告）号： | CN112902849B | 公开（公告）日： | 2022-04-19 |
| 发明（设计）人： | 石照耀;张临涛;汤洁;叶勇;付瑛;杨炳耀;姜盟 | 申请（专利权）人： | 北京工业大学 |
| 主分类号： | G01B11/02 | 分类号： | G01B11/02;G01M13/021 |
| 代理公司： | 北京思海天达知识产权代理有限公司 11203 | 代理人： | 刘萍 |
| 地址： | 100124 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种测量蜗轮副双啮误差的结构属于齿轮测量技术领域。本发明介绍了此蜗轮副双面啮合测量仪的系统结构，蜗轮副双啮仪测量中心距和中心高可根据被测工件尺寸进行调节，因此可测量多种规格的蜗轮蜗杆。仪器可以将测量通过测量软件实时呈现出来，测量范围广，测量精度高，可满足生产现场蜗轮蜗杆的快速测量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测量 蜗轮 副双啮 误差 结构 | ||
【主权项】：
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