[发明专利]一种监测碳化硅功率模块老化程度的方法及装置有效
| 申请号： | 202110071525.4 | 申请日： | 2021-01-19 |
| 公开（公告）号： | CN112858865B | 公开（公告）日： | 2022-07-12 |
| 发明（设计）人： | 兰欣;朱士伟;于功山;王兴华;刘祥龙;谢国芳;吴平 | 申请（专利权）人： | 元山（济南）电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01N25/20 |
| 代理公司： | 北京君慧知识产权代理事务所(普通合伙) 11716 | 代理人： | 陈曦 |
| 地址： | 250118 山东省*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种监测碳化硅功率模块老化程度的方法及装置，用以解决现有的对碳化硅功率模块寿命进行的测试方法，不能实时反映碳化硅功率模块老化程度的技术问题。方法包括：获取碳化硅功率模块上的若干热电偶分别对应的温度值；其中，若干热电偶通过耐高温导热胶带均匀贴装于碳化硅功率模块的铜基板底部；基于若干热电偶分别对应的温度值，确定碳化硅功率模块对应的温度分布云图；通过温度分布云图，确定碳化硅功率模块的老化程度。本申请通过在碳化硅功率模块的铜基板底部贴装热电偶的方式，获取若干碳化硅功率模块对应位置温度值从而确定碳化硅功率模块老化程度，实现了实时反映碳化硅功率模块的老化程度的技术效果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 监测 碳化硅 功率 模块 老化 程度 方法 装置 | ||
【主权项】：
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