[发明专利]柱形光栅干涉仪及读数头总成装置有效

专利信息
申请号: 202110067125.6 申请日: 2021-01-19
公开(公告)号: CN112902832B 公开(公告)日: 2023-08-25
发明(设计)人: 伍强;李艳丽 申请(专利权)人: 上海集成电路装备材料产业创新中心有限公司;上海集成电路研发中心有限公司
主分类号: G01B9/02 分类号: G01B9/02;G01B9/02015;G01B11/26
代理公司: 上海恒锐佳知识产权代理事务所(普通合伙) 31286 代理人: 黄海霞
地址: 201800 上海市嘉定*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种柱形光栅干涉仪及读数头总成装置,其中,读数头总成装置包括:包括读数头总成以及升降机构,在零位状态下,所述旋转平台的转动轴线、所述柱形光栅尺的中心轴线、读数头总成的中心轴线同轴设置,所述升降机构设置在所述读数头总成的底部,用于在所述旋转平台开始转动之前,将所述读数头总成提升至所述柱形光栅尺对应的测量位置,以及在所述旋转平台完成转动之后,将所述读数头总成降低至低于所述柱形光栅尺的底面。本发明采用了柱形光栅尺和读数头总成可升降分离的架构,能够在工位交换转动的过程中,对旋转平台的转动角度进行精密测量,并且在非交换转动状态下,避免读数头总成撞到柱形光栅尺。
搜索关键词: 光栅 干涉仪 读数 总成 装置
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海集成电路装备材料产业创新中心有限公司;上海集成电路研发中心有限公司,未经上海集成电路装备材料产业创新中心有限公司;上海集成电路研发中心有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202110067125.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top