[发明专利]识别集成电路芯片中观察到的异常的原因在审
| 申请号： | 202080083699.6 | 申请日： | 2020-11-26 |
| 公开（公告）号： | CN114761928A | 公开（公告）日： | 2022-07-15 |
| 发明（设计）人： | M·哈伦达;G·帕内萨尔 | 申请（专利权）人： | 西门子工业软件有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/00 | 分类号： | G06F11/00;G06F17/18 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人： | 李兴斌;闫昊 |
| 地址： | 美国得*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种识别从集成电路(IC)芯片上的系统电路装置测得的异常特征的原因的方法，IC芯片包括系统电路装置和监控电路装置，监控电路装置用于通过测量一系列窗口的每个窗口中的系统电路装置的特征来监控系统电路装置，该方法包括：(i)从包括异常特征的异常窗口之前的窗口集中，识别候选窗口集，以便在候选窗口集中搜索异常特征的原因；(ii)针对系统电路装置的测得特征中的每个测得特征：(a)针对候选窗口集计算该测得特征的第一特征概率分布；(b)针对不在候选窗口集中的窗口计算该测得特征的第二特征概率分布；(c)比较第一和第二特征概率分布；以及(d)如果第一和第二特征概率分布相差超过阈值，则识别出在候选窗口集的时间范围内的该测得特征作为异常特征的原因；(iii)针对来自异常窗口之前的窗口集的其他候选窗口集，迭代步骤(i)和(ii)；以及(iv)输出信号，该信号指示步骤(ii)(d)中被识别为异常特征的原因的测得特征。 | ||
| 搜索关键词： | 识别 集成电路 芯片 观察到 异常 原因 | ||
【主权项】：
暂无信息
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