[发明专利]非接触式光学测量设备和可更换光学探头在审
| 申请号： | 202080065715.9 | 申请日： | 2020-09-18 |
| 公开（公告）号： | CN114667432A | 公开（公告）日： | 2022-06-24 |
| 发明（设计）人： | S·A·博林;B·莱玛克里斯南;D·G·阿奎;C·巴恩斯 | 申请（专利权）人： | 德弗里茨自动化公司 |
| 主分类号： | G01B11/25 | 分类号： | G01B11/25;G01B7/008;G01B5/004;G01B5/008;G01B11/24;G01B21/04 |
| 代理公司： | 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 | 代理人： | 徐东升 |
| 地址： | 美国俄*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本申请公开一种非接触式光学测量设备，其用于基于从光源发射并被工件表面反射以入射到光谱传感器上的光的可配置光传播路径来检测或测量不同的几何工件特征。光传播路径可基于哪个光学探头被附接到旋转台上来配置，该旋转台使探头围绕光轴并在准直区域中旋转。 | ||
| 搜索关键词： | 接触 光学 测量 设备 更换 探头 | ||
【主权项】：
暂无信息
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