[发明专利]颗粒分析装置的保管方法及颗粒分析装置的制造方法在审
| 申请号： | 202080050844.0 | 申请日： | 2020-06-24 |
| 公开（公告）号： | CN114174798A | 公开（公告）日： | 2022-03-11 |
| 发明（设计）人： | 室田雄辉;吉富匠;藤泽直广 | 申请（专利权）人： | NOK株式会社 |
| 主分类号： | G01N15/00 | 分类号： | G01N15/00 |
| 代理公司： | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人： | 马运刚;李维凤 |
| 地址： | 日本东京都港*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供一种颗粒分析装置的保管方法，能够抑制用于分析外泌体、花粉、病毒、细菌等颗粒的颗粒分析装置中的测定功能的经时劣化。一种保管颗粒分析装置的颗粒分析装置的保管方法，该颗粒分析装置具有：第一储存室，储存第一液体；第二储存室，储存包含作为分析对象的颗粒的第二液体；和将第一储存室与第二储存室连接而使流体流通的流路，并对第一储存室、第二储存室及流路的至少一部分的表面进行表面处理，其中，该颗粒分析装置的保管方法用液体充满由第一储存室、第二储存室及流路划分形成的内部空间，从而将表面处理过的所述表面维持为与空气非接触的状态来进行保管。 | ||
| 搜索关键词： | 颗粒 分析 装置 保管 方法 制造 | ||
【主权项】：
暂无信息
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