[发明专利]颗粒分析装置的保管方法及颗粒分析装置的制造方法在审
| 申请号： | 202080050844.0 | 申请日： | 2020-06-24 |
| 公开（公告）号： | CN114174798A | 公开（公告）日： | 2022-03-11 |
| 发明（设计）人： | 室田雄辉;吉富匠;藤泽直广 | 申请（专利权）人： | NOK株式会社 |
| 主分类号： | G01N15/00 | 分类号： | G01N15/00 |
| 代理公司： | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人： | 马运刚;李维凤 |
| 地址： | 日本东京都港*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 颗粒 分析 装置 保管 方法 制造 | ||
【权利要求书】：
1.一种颗粒分析装置的保管方法，该方法是保管颗粒分析装置的方法，所述颗粒分析装置具有：
第一储存室，储存第一液体；
第二储存室，储存包含作为分析对象的颗粒的第二液体；和
流路，将所述第一储存室与所述第二储存室连接而使流体流通，
并对所述第一储存室、所述第二储存室及所述流路的至少一部分的表面进行表面处理，
在所述颗粒分析装置的保管方法中，
用液体充满由所述第一储存室、所述第二储存室及所述流路划分形成的内部空间，从而将表面处理过的所述表面维持为与空气非接触的状态来进行保管。
2.根据权利要求1所述的颗粒分析装置的保管方法，其中，
所述液体为水或者磷酸缓冲液。
3.一种颗粒分析装置的制造方法，其中，
制作分析用结构体，所述分析用结构体具有：
第一储存室，储存第一液体；
第二储存室，储存包含作为分析对象的颗粒的第二液体；和
流路，将所述第一储存室与所述第二储存室连接而使流体流通，
对所述分析用结构体中的、所述第一储存室、所述第二储存室及所述流路的至少一部分的表面进行表面处理而得到颗粒分析装置，
之后，用液体充满由所述第一储存室、所述第二储存室及所述流路划分形成的内部空间，从而在表面处理过的所述表面为与空气非接触的状态下，将所述颗粒分析装置收容在收容体内。
4.根据权利要求3所述的颗粒分析装置的制造方法，其中，
所述液体为水或者磷酸缓冲液。
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