[发明专利]颗粒分析装置的保管方法及颗粒分析装置的制造方法

说明书

本发明提供一种颗粒分析装置的保管方法，能够抑制用于分析外泌体、花粉、病毒、细菌等颗粒的颗粒分析装置中的测定功能的经时劣化。一种保管颗粒分析装置的颗粒分析装置的保管方法，该颗粒分析装置具有：第一储存室，储存第一液体；第二储存室，储存包含作为分析对象的颗粒的第二液体；和将第一储存室与第二储存室连接而使流体流通的流路，并对第一储存室、第二储存室及流路的至少一部分的表面进行表面处理，其中，该颗粒分析装置的保管方法用液体充满由第一储存室、第二储存室及流路划分形成的内部空间，从而将表面处理过的所述表面维持为与空气非接触的状态来进行保管。

技术领域

本发明涉及一种颗粒分析装置的保管方法及颗粒分析装置的制造方法。更详细地说，涉及一种能够抑制颗粒分析装置的测定功能的经时劣化的颗粒分析装置的保管方法及颗粒分析装置的制造方法。

背景技术

以往，为了对外泌体、花粉、病毒、细菌、DNA等单颗粒进行检测分析，提出使用纳米孔的检测方法(例如，参照专利文献1)、具有该纳米孔的颗粒分析装置(例如，参照专利文献2)。

该颗粒分析装置具体来说如下那样分析颗粒。即，颗粒分析装置具有将2个空间连接的孔，在一个空间储存有液体，在另一个空间储存有含有作为被分析的对象的颗粒的液体。对这些空间施加不同的电位，在电泳的作用下颗粒通过孔。并且，在颗粒通过孔时，流经液体的电流值发生变化，故观察该变化。如此，能够分析通过了孔的颗粒的特征、例如种类、形状、尺寸。

在使用形成有纳米孔的颗粒分析装置进行颗粒检测的情况下，特别是从需要使液体、颗粒在纳米孔内不堵塞地流动的观点来看，进行构成该纳米孔等的表面的表面处理(例如，参照专利文献3、4)。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2014-174022号公报

专利文献2：日本专利第5866652号公报

专利文献3：国际公开第2018/105229号

专利文献4：日本特开2017-187443号公报

专利文献5：国际公开第2019/008736号

发明内容

发明所要解决的技术问题

但是，如专利文献3、4所记载那样在进行了表面处理的情况下，从构成纳米孔等的树脂、硅橡胶等橡胶经时性地产生挥发物、溶出物，纳米孔等被污染，不能充分地得到表面处理的效果，其结果，担心颗粒的检测能力下降。也就是说，担心颗粒的检测能力经时性地产生劣化。由此，关于实施了上述表面处理的颗粒分析装置，期望开发能够抑制基于表面处理而产生的所期望的效果早期产生经时劣化的方法，即能够使表面处理的效果长期维持的方法。

需要说明的是，在专利文献5中，记载了关于保管对孔(纳米孔)进行加工前的Si薄膜的保管装置等。但是，在该专利文献5中，关于形成有纳米孔并实施了表面处理的颗粒分析装置，关于抑制其颗粒的检测能力经时性地产生劣化尚未记载。

本发明正是鉴于这样的现有技术所作出的，其技术问题在于提供一种能够抑制实施了上述表面处理的颗粒分析装置的测定功能(即、颗粒的检测能力)的经时劣化的颗粒分析装置的保管方法及该颗粒分析装置的制造方法。

用于解决技术问题的方案

根据本发明，提供以下所示的、一种颗粒分析装置的保管方法及颗粒分析装置的制造方法。

[1]一种颗粒分析装置的保管方法，是保管颗粒分析装置的方法，所述颗粒分析装置具有：

第一储存室，储存第一液体；

第二储存室，储存包含作为分析对象的颗粒的第二液体；和