[发明专利]自校准光学浊度测量装置在审
| 申请号： | 202080048241.7 | 申请日： | 2020-06-26 |
| 公开（公告）号： | CN114174808A | 公开（公告）日： | 2022-03-11 |
| 发明（设计）人： | 本杰明·卡尔;安德鲁·詹姆斯·鲍恩 | 申请（专利权）人： | ABB瑞士股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/49 | 分类号： | G01N21/49;G01N21/31 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人： | 李辉 |
| 地址： | 瑞士*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 自校准光学浊度测量装置(10)，包括：壳体(20)，包括具有内壁(26)的腔(25)，其中内壁(26)包括在腔(25)的第一端部(21)的区域中的基本笔直的区段(22)以及针对介质(28)的开口；光学标准件(40)，其在基本笔直的区段(22)内的第一区段(23)和第二区段(24)之间是可移动的；以及光源(30)和光传感器(35)，被布置在第一区段(23)处，并且在光学标准件(40)处于第二区段(24)处时被配置为测量介质的浊度，以及在光学标准件(40)处于第一区段(23)处时被配置为测量光学标准件(40)的浊度并且根据所测量的浊度来确定用于执行自校准的校准系数。 | ||
| 搜索关键词： | 校准 光学 浊度 测量 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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