[发明专利]静态增益校准在审
| 申请号： | 202080042412.5 | 申请日： | 2020-04-10 |
| 公开（公告）号： | CN113939229A | 公开（公告）日： | 2022-01-14 |
| 发明（设计）人： | P·J·维塔根;E·胡梅尔;F·S·B·范尼亚纳滕;J·A·范鲁伊杰恩;P·G·范德哈尔 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦有限公司 |
| 主分类号： | A61B6/03 | 分类号： | A61B6/03;A61B6/00 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 刘兆君 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 公开了一种用于成像的X射线系统(1、10)和一种增益校准方法。所述系统的组件(4、14)可移动到不同的扫描坐标，以当所述组件移动时以动态模式在多个所述扫描坐标处采集X射线投影图像。所述组件还可移动到预定参考坐标，以当所述组件静止时以静态模式在所述参考坐标处采集X射线投影图像。由所述X射线系统包括的至少一个处理单元(5)被配置为接收多个动态增益校准参数作为第一输入，并且获得静态增益校准参数作为第二输入，并且确定多个经调整的动态增益校准参数。每个动态增益校准参数根据在所述扫描坐标中的一个处以所述动态模式采集的X射线投影图像获得。所述静态增益校准参数根据在所述预定参考坐标处以所述静态模式采集的X射线投影图像获得。 | ||
| 搜索关键词： | 静态 增益 校准 | ||
【主权项】：
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