[发明专利]用于无间隙地一维测量X射线辐射的测量系统在审
| 申请号： | 202080015652.6 | 申请日： | 2020-02-18 |
| 公开（公告）号： | CN113454446A | 公开（公告）日： | 2021-09-28 |
| 发明（设计）人： | J·芬克;C·毛雷尔;L·布莱格曼;C·维南兹 | 申请（专利权）人： | 布鲁克AXS有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/20008 | 分类号： | G01N23/20008 |
| 代理公司： | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人： | 张立国 |
| 地址： | 德国卡*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明概括地提出构造具有多个探测器模块(1、1a‑1g)的X射线探测器(21)，探测器模块分别包括没有X射线敏感性的死区(6)和具有在测量方向(MR)上空间分辨的X射线敏感性的作用区(3、3a‑3c)，各探测器模块(1、1a‑1g)沿测量方向(MR)依次相继且重叠地构造，使得在重叠区域(23a‑23e)中一个探测器模块(1、1a‑1g)的死区(6)被另一个探测器模块(1、1a‑1g)的作用区(3、3a‑3c)桥接。重叠的探测器模块(1、1a‑1g)在重叠区域(23a‑23e)中在横向方向(QR)上并排布置，横向方向(QR)横向于局部测量方向(MR)且横向于至样本位置(91)的局部连接方向(VR)延伸。利用X射线探测器(21)能简单获得在样本位置(91)处的测量样本(96)的无间隙的一维测量信息、尤其是X射线衍射信息。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 无间 隙地 测量 射线 辐射 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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