[实用新型]一种温度、空间可调节的元件性能测试箱有效
| 申请号： | 202023281374.5 | 申请日： | 2020-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN214427533U | 公开（公告）日： | 2021-10-19 |
| 发明（设计）人： | 刘伟 | 申请（专利权）人： | 中国科学院紫金山天文台 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R1/04;G05D27/02;B01L1/00;B01L7/00 |
| 代理公司： | 南京钟山专利代理有限公司 32252 | 代理人： | 张明浩 |
| 地址： | 210008 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种温度、空间可调节的元件性能测试箱，平台板将测试箱本体内的空间分隔为上部测试空间和下部升降空间，平台板上用于放置元件或元件安装架，测试箱上盖上安装有半导体冷热片，半导体冷热片贯穿测试箱上盖，且半导体冷热片的冷端位于测试箱上盖的下方，伸入至上部测试空间中，半导体冷热片的热端位于测试箱上盖的上方，平台板上的四角安装有功率电阻，功率电阻能通过加热升高上部测试空间内的温度，上部测试空间内安装有温度传感器。本实用新型降温速度快，效果好，能有效降低元件性能测试箱的体积，使元件性能测试箱便于携带，能改变箱体内的测试空间，使元件性能测试箱适应不同尺寸的测试元件，有效降低能耗。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 温度 空间 调节 元件 性能 测试 | ||
【主权项】：
暂无信息
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