[实用新型]一种芯片小型推杆测试座有效
| 申请号： | 202022584881.X | 申请日： | 2020-11-10 |
| 公开（公告）号： | CN213813683U | 公开（公告）日： | 2021-07-27 |
| 发明（设计）人： | 谢森华 | 申请（专利权）人： | 深圳圆融达微电子技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R31/28 |
| 代理公司： | 深圳力拓知识产权代理有限公司 44313 | 代理人： | 崔智 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市龙华区观澜街道大*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种芯片小型推杆测试座，包括下连接块和上连接块，所述下连接块的顶部固定有两个转杆座，且所述转杆座通过旋转杆连接有上连接块，所述下连接块的顶部开设有芯片测试槽,本实用新型中，通过设有散热片和安装座，安装座采用铜材料制作而成，散热片的顶部开设有多个通孔，散热片的底部设置有安装座，安装座的顶部开设有螺栓孔，且通孔通过螺栓穿过螺栓孔与安装座固定安装，与同类型装置相比，具有测试期间被测器件散热功能，满足更大功率IC芯片测试，及特种测试要求、提升测试过程中稳定性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 小型 推杆 测试 | ||
【主权项】：
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