[实用新型]一种包含多种校准类型的晶圆标准样板有效

专利信息
申请号: 202022169212.6 申请日: 2020-09-28
公开(公告)号: CN213750299U 公开(公告)日: 2021-07-20
发明(设计)人: 蒋庄德;张雅馨;王琛英;景蔚萱;林启敬;张易军;张亮亮;高崐;李磊;毛琦;王松;牛忠楠 申请(专利权)人: 西安交通大学
主分类号: G01R35/00 分类号: G01R35/00;G03F7/20
代理公司: 北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319 代理人: 苟冬梅
地址: 710049 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 本申请实施例提供一种包含多种校准类型的晶圆标准样板,属于微纳米级精密测量技术领域。包括:基底,所述基底上设置有指引区域与校准区域;所述指引区域包括:指引图案与至少两个凹坑;所述校准区域包括:与每个凹坑配套的标准样板,所述标准样板安装于所述凹坑上;所述指引图案设置于所述凹坑周围,用于在测量仪器对所述标准样板进行定位时,对所述测量仪器的定位起到指示作用。使用本申请提供的包含多种校准类型的晶圆标准样板,可以在保证校准精度的同时,提高校准效率。
搜索关键词: 一种 包含 多种 校准 类型 标准 样板
【主权项】:
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