[实用新型]测试讯号隔离探针座和电路晶片测试组件有效
| 申请号： | 202021305503.7 | 申请日： | 2020-07-04 |
| 公开（公告）号： | CN212872763U | 公开（公告）日： | 2021-04-02 |
| 发明（设计）人： | 洪敬文 | 申请（专利权）人： | 卓越（阳信）科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/04;G01R1/18;G01R1/073 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 251800 山东省滨*** | 国省代码： | 山东;37 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型涉及一种测试讯号隔离探针座和电路晶片测试组件，属于电路晶片测试的技术领域，用于解决现有技术中电路晶片测试装置测试探针中信号相互干扰的问题，该测试讯号隔离探针座包括用于连接电路晶片和测试机的若干半导体IC测试探针、设置有若干供半导体IC测试探针一一对应插入插孔的插座壳以及若干一一对应于所述半导体IC测试探针以电磁屏蔽对应半导体IC测试探针产生电磁讯号的金属管。在使用该探针座进行电路晶片测试时，金属管能够屏蔽半导体IC测试探针由于流过通讯信号产生的电磁讯号，即半导体IC测试探针之间不会相互干扰，从而提高了测试过程的准确性和稳定性。该电路晶片测试组件包括该测试讯号隔离探针座。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 讯号 隔离 探针 电路 晶片 组件 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于卓越（阳信）科技有限公司，未经卓越（阳信）科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202021305503.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种玻璃钢生产用履带拉挤设备
- 下一篇：一种修枝机刀片磨床的上料机构
