[实用新型]一种带限位结构的芯片测试装置有效
| 申请号： | 202020821945.0 | 申请日： | 2020-05-18 |
| 公开（公告）号： | CN212872757U | 公开（公告）日： | 2021-04-02 |
| 发明（设计）人： | 孙文檠 | 申请（专利权）人： | 马鞍山芯海科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/04 |
| 代理公司： | 盐城平易安通知识产权代理事务所(普通合伙) 32448 | 代理人： | 陈彩芳 |
| 地址： | 243000 安徽省*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本实用公开的一种带限位结构的芯片测试装置，包括底板，所述底板的顶部设有第一支撑板，所述第一支撑板的底部与底板的顶部固定连接，所述底板的上方设有顶板，所述顶板的一侧与第一支撑板的一侧固定连接，所述顶板的底部设有芯片测试探针，所述芯片测试探针与第一支撑板之间设有调节组件，所述底板的底部固定连接有若干支撑腿，所述支撑腿的底部固定连接有固定板，所述底板和芯片测试探针之间设有测试板，所述测试板与底板之间设有升降组件，所述测试板上设有限位机构。本实用所述的一种带限位结构的芯片测试装置，芯片测试探针可以探到芯片上不同位置的测试点，提高了测试范围，操作简单，便于实际使用。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 限位 结构 芯片 测试 装置 | ||
【主权项】：
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