[实用新型]一种具有防静电功能的芯片测试治具

摘要

本实用新型公开了一种具有防静电功能的芯片测试治具，包括基座、活动块、挡块，所述基座的上开设有活动块容纳槽，所述活动块容纳槽的前后两侧壁均开设有条形槽，所述挡块固定在活动块容纳槽的左右两端且位于基座上面，所述活动块放置于活动块容纳槽内，所述活动块上设有芯片槽，所述芯片槽连接有感应槽，所述感应槽穿设于活动块上。本实用新型的有益效果是：是一种便于更换、防静电的测试治具，通过将芯片槽底部采用防静电的ESD420材质制成，屏蔽静电的效果，然后将芯片槽制成可拆卸的活动块，可实现仅更换活动块就可对不同尺寸、形状的芯片进行检测，而且更换简单、方便，同时可增加芯片槽的数量来提升检测效率。