[实用新型]一种新型半导体激光器测试装置有效
| 申请号： | 202020571750.5 | 申请日： | 2020-04-14 |
| 公开（公告）号： | CN211784208U | 公开（公告）日： | 2020-10-27 |
| 发明（设计）人： | 李艳青;李飞;程世超;黄宁博;李程;侯作为 | 申请（专利权）人： | 河南仕佳信息技术研究院有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 458030 河*** | 国省代码： | 河南;41 |
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| 摘要： | 本实用新型提供了一种新型半导体激光器测试装置，包括测试插座孔，Z轴顶紧旋钮，X轴调节旋钮，被测试激光器，Y轴调节部件，电路板，电路插座，光路测试用光纤，光参数测试仪；所述电路插座插装在测试插座孔内；所述被测试激光器的插针脚穿过测试插座孔插在电路插座的针孔内，形成与电路板的电路接触连接；所述底座的前端面具有Z轴顶紧旋钮；所述底座的右端面前部具有X轴调节旋钮；所述Y轴调节部件的底端位于底座槽口内；所述光参数测试仪的测试输入端与光路测试用光纤及光纤陶瓷插芯的芯管里的光纤光路相通。本实用新型达到了提高半导体激光器测试效率，提高了光参数测试精度和准确度，使用效果良好。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 新型 半导体激光器 测试 装置 | ||
【主权项】：
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