[实用新型]一种制冷芯片电流启停循环测试装置

摘要

本实用新型提供一种制冷芯片电流启停循环测试装置，包括玻璃板，所述玻璃板的顶部放置有温度控制器，所述温度控制器顶部右侧的中心处嵌设有控制板。本实用新型通过LCR测试仪、热板和温度控制器的配合，使用者准备N个半导体制冷片，此时将电阻调为30℃时的电阻，随后使用者用导热脂和螺丝把器件均匀的装在热板上，通电并用温度控制器控制热板保持120℃，给器件通最大电压80％电流5MIN，随后断电5MIN，此为一个循环，依次重复5000个循环，随后取出TEC，并在测量器件在30℃时电阻，若电阻测试后器件电阻变化率小于5％，则为通过测试，解决了传统制冷芯片电流启停循环测试装置对制冷芯片的测试准确度差的问题。