[实用新型]一种制冷芯片电流启停循环测试装置

说明书

本实用新型提供一种制冷芯片电流启停循环测试装置，包括玻璃板，所述玻璃板的顶部放置有温度控制器，所述温度控制器顶部右侧的中心处嵌设有控制板。本实用新型通过LCR测试仪、热板和温度控制器的配合，使用者准备N个半导体制冷片，此时将电阻调为30℃时的电阻，随后使用者用导热脂和螺丝把器件均匀的装在热板上，通电并用温度控制器控制热板保持120℃，给器件通最大电压80％电流5MIN，随后断电5MIN，此为一个循环，依次重复5000个循环，随后取出TEC，并在测量器件在30℃时电阻，若电阻测试后器件电阻变化率小于5％，则为通过测试，解决了传统制冷芯片电流启停循环测试装置对制冷芯片的测试准确度差的问题。

技术领域

本实用新型涉及芯片领域，尤其涉及一种制冷芯片电流启停循环测试装置。

背景技术

芯片是将电路制造在半导体芯片表面上的集成电路，又称薄膜集成电路，另有一种厚膜集成电路是由独立半导体设备和被动组件，集成到衬底或线路板所构成的小型化电路，相对于手工组装电路使用个别的分立电子组件，集成电路可以把很大数量的微晶体管集成到一个小芯片，是一个巨大的进步，集成电路的规模生产能力，可靠性，电路设计的模块化方法确保了快速采用标准化集成电路代替了设计使用离散晶体管。

制冷芯片在制作完成之后需要对其进行电流启停循环测试，然而传统制冷芯片电流启停循环测试装置对制冷芯片的测试准确度差，从而无法准确的检测出在电流循环开和关的环境下，器件产生的热和电反应效应而使器件产生损伤的程度。

因此，有必要提供一种制冷芯片电流启停循环测试装置解决上述技术问题。

实用新型内容

本实用新型提供一种制冷芯片电流启停循环测试装置，解决了传统制冷芯片电流启停循环测试装置对制冷芯片的测试准确度差的问题。

为解决上述技术问题，本实用新型提供的一种制冷芯片电流启停循环测试装置，包括玻璃板，所述玻璃板的顶部放置有温度控制器，所述温度控制器顶部右侧的中心处嵌设有控制板，所述控制板顶部的两侧均放置有热板，所述温度控制器通过连接线连通有测试器，所述测试器通过连接线连通有LCR测试仪。

优选的，所述LCR测试仪顶部的正面和背面栓接有固定块，所述固定块的内侧固定连接有提手，所述提手的表面固定连接有防滑凸纹。

优选的，所述LCR测试仪顶部正面的左侧粘接有警示标牌，所述警示标牌的表面喷涂有注意事项。

优选的，所述测试器正面的两侧均固定连接有把手，所述热板顶部两侧的中心处开设有安装孔。

优选的，所述温度控制器正面的左侧嵌设有第一按钮，所述测试器正面的右侧嵌设有第二按钮。

优选的，所述温度控制器正面右侧的顶部和底部从左至右均依次开设有第一散热槽，所述温度控制器右侧的顶部和底部从左至右均依次开设有第二散热槽。

优选的，所述温度控制器正面的左侧固定连接有控制器，所述测试器正面的中心处和LCR测试仪正面顶部的左侧均嵌设有显示屏。

与相关技术相比较，本实用新型提供的一种制冷芯片电流启停循环测试装置具有如下有益效果：

本实用新型提供一种制冷芯片电流启停循环测试装置，

1、本实用新型通过LCR测试仪、热板和温度控制器的配合，使用者准备N 个半导体制冷片，此时将电阻调为30℃时的电阻，随后使用者用导热脂和螺丝把器件均匀的装在热板上，此时使用者将器件接好电源，当器件通电时能使热面贴热板，通电并用温度控制器控制热板保持120℃，给器件通最大电压80％电流5MIN，随后断电5MIN，此为一个循环，依次重复5000个循环，随后取出 TEC，并在测量器件在30℃时电阻，若电阻测试后器件电阻变化率小于5％，则为通过测试，解决了传统制冷芯片电流启停循环测试装置对制冷芯片的测试准确度差的问题。