[实用新型]一种用于测试存储卡使用寿命的老化机试验设备有效
| 申请号： | 202020255592.2 | 申请日： | 2020-03-04 |
| 公开（公告）号： | CN211877723U | 公开（公告）日： | 2020-11-06 |
| 发明（设计）人： | 谭超 | 申请（专利权）人： | 深圳市友林电子有限公司 |
| 主分类号： | G01N17/00 | 分类号： | G01N17/00;G01R31/00;G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京权智天下知识产权代理事务所(普通合伙) 11638 | 代理人： | 李海燕 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市福田区沙头*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型提供了一种用于测试存储卡使用寿命的老化机试验设备,包括装置主体，装置主体外部左右两侧固定安装有调节箱，装置主体内部上端固定安装有紫外灯管，装置主体内部下端固定安装有放置板。本实用新型通过摩擦层为金属、塑料任意一种设置，且放置板下端的连接杆一端设置在转盘的边缘处，则当第一电机与外部电源连接后能带动放置板进行水平方向圆周运动，使放置板上限位板内的存储卡与摩擦层进行摩擦，从而模拟存储卡在日常使用中放在智能设备里的状态，使得提高对储存卡使用寿命测试的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 测试 存储 使用寿命 老化 试验 设备 | ||
【主权项】：
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