[实用新型]一种用于测试存储卡使用寿命的老化机试验设备有效
| 申请号： | 202020255592.2 | 申请日： | 2020-03-04 |
| 公开（公告）号： | CN211877723U | 公开（公告）日： | 2020-11-06 |
| 发明（设计）人： | 谭超 | 申请（专利权）人： | 深圳市友林电子有限公司 |
| 主分类号： | G01N17/00 | 分类号： | G01N17/00;G01R31/00;G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京权智天下知识产权代理事务所(普通合伙) 11638 | 代理人： | 李海燕 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市福田区沙头*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 用于 测试 存储 使用寿命 老化 试验 设备 | ||
1.一种用于测试存储卡使用寿命的老化机试验设备,包括装置主体(1)，其特征在于：装置主体(1)外部左右两侧固定安装有调节箱(2)，所述装置主体(1)内部上端固定安装有紫外灯管(3)，所述装置主体(1)内部下端固定安装有放置板(6)，所述放置板(6)下端固定连接有连接杆(13)，所述连接杆(13)下端固定连接有转盘(7)，所述转盘(7)下端固定安装有第一电机(8)，所述放置板(6)内部底端活动安装有摩擦层(9)，所述摩擦层(9)上端活动安装有限位板(10)，所述限位板(10)上端开设有限位槽(11)，所述装置主体(1)内部底端固定安装有滚球(15)，所述装置主体(1)正面活动安装有装置门体(14)，所述调节箱(2)内部固定安装有遮挡板(4)，所述遮挡板(4)上端固定安装有清洁棉(5)，所述调节箱(2)内部下端固定安装有驱动齿轮(16)，所述驱动齿轮(16)后端固定安装有第二电机(17)，所述限位板(10)内部固定安装有转轮(12)。
2.根据权利要求1所述的一种用于测试存储卡使用寿命的老化机试验设备，其特征在于：所述摩擦层(9)为金属、塑料任意一种设置，所述紫外灯管(3)与外部电源电性连接，所述连接杆(13)的一端设置在转盘(7)的边缘处，所述第一电机(8)与外部电源电性连接。
3.根据权利要求1所述的一种用于测试存储卡使用寿命的老化机试验设备，其特征在于：所述限位板(10)与摩擦层(9)为活动放置在放置板(6)内部，所述限位板(10)上均匀开设有圆形限位槽(11)。
4.根据权利要求1所述的一种用于测试存储卡使用寿命的老化机试验设备，其特征在于：所述装置主体(1)下端为包裹滚球(15)三分之二设置，所述转轮(12)分别设置在限位槽(11)边缘处。
5.根据权利要求1所述的一种用于测试存储卡使用寿命的老化机试验设备，其特征在于：所述遮挡板(4)下端边缘设置有与驱动齿轮(16)咬合的齿条，所述第二电机(17)与外部电源电性连接。
6.根据权利要求1所述的一种用于测试存储卡使用寿命的老化机试验设备，其特征在于：所述遮挡板(4)内侧为栅格状设置。
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