[实用新型]一种用于测试存储卡使用寿命的老化机试验设备

说明书

本实用新型提供了一种用于测试存储卡使用寿命的老化机试验设备,包括装置主体，装置主体外部左右两侧固定安装有调节箱，装置主体内部上端固定安装有紫外灯管，装置主体内部下端固定安装有放置板。本实用新型通过摩擦层为金属、塑料任意一种设置，且放置板下端的连接杆一端设置在转盘的边缘处，则当第一电机与外部电源连接后能带动放置板进行水平方向圆周运动，使放置板上限位板内的存储卡与摩擦层进行摩擦，从而模拟存储卡在日常使用中放在智能设备里的状态，使得提高对储存卡使用寿命测试的准确性。

技术领域

本实用新型涉及老化机试验设备技术领域，具体为一种用于测试存储卡使用寿命的老化机试验设备。

背景技术

紫外老化试验机是一种采用荧光紫外灯为光源，通过模拟自然阳光中的紫外辐射，对材料进行加速耐候性试验，以获得材料耐候性的结果的实验设备，但现有的老化机在对于储存卡使用寿命的测试中，只有模拟阳光照射则一种，无法进一步对储存卡在人们日常使用，可能产生的磨损进行模拟，从而降低了测试结果的准确性。

基于上述描述，并检索一件申请号CN201920124988.0的实用新型专利，关于一种紫外老化试验机，包括箱体，其特征在于：箱体上设置有多层紫外灯，相邻紫外灯之间均设置有水平放置的成U形的固定架，固定架的开口朝外，固定架的两侧均设置有滑槽......滑动架的上表面设置有若干个插孔，挂钩穿入插孔内。所述滑动架的两端均设置有转轮，挂钩的上端抵触在滑槽的上沿。滑槽的前端设置有挡块。通过检索发现，现有的紫外线老化试验机，通过壳体两侧设置有挂钩，挂钩的上端抵触在滑槽的上沿，在向内滑动的过程中，由滑槽的上沿将挂钩压住，从而避免物料盘掉落，保证其稳定性。

经过上述检索文件进行分析以及对现有技术进行对比后发现，现有的紫外线老化试验机在对储存卡进行老化试验时，大都没有安装对储存卡在人们日常使用可能产生的磨损进行模拟的装置，因此，需要对紫外线老化机，进行进一步的研究，提供一种用于测试存储卡使用寿命的老化机试验设备。

实用新型内容

本实用新型提供了一种用于测试存储卡使用寿命的老化机试验设备，以解决普通紫外线老化装置无法对储存卡在人们日常使用可能产生的磨损进行模拟，从而降低了测试结果的真实性的技术问题。

为实现上述目的，本实用新型提供了一种用于测试存储卡使用寿命的老化机试验设备,包括装置主体，装置主体外部左右两侧固定安装有调节箱，所述装置主体内部上端固定安装有紫外灯管，所述装置主体内部下端固定安装有放置板，所述放置板下端固定连接有连接杆，所述连接杆下端固定连接有转盘，所述转盘下端固定安装有第一电机，所述放置板内部底端活动安装有摩擦层，所述摩擦层上端活动安装有限位板，所述限位板上端开设有限位槽，所述装置主体内部底端固定安装有滚球，所述装置主体正面活动安装有装置门体，所述调节箱内部固定安装有遮挡板，所述遮挡板上端固定安装有清洁棉，所述调节箱内部下端固定安装有驱动齿轮，所述驱动齿轮后端固定安装有第二电机，所述限位板内部固定安装有转轮。

进一步的，所述摩擦层为金属、塑料任意一种设置，所述紫外灯管与外部电源电性连接，所述连接杆的一端设置在转盘的边缘处，所述第一电机与外部电源电性连接。

进一步的，所述限位板与摩擦层为活动放置在放置板内部，所述限位板上均匀开设有圆形限位槽。

进一步的，所述装置主体下端为包裹滚球三分之二设置，所述转轮分别设置在限位槽边缘处。

进一步的，所述遮挡板下端边缘设置有与驱动齿轮咬合的齿条，所述第二电机与外部电源电性连接。

进一步的，所述遮挡板内侧为栅格状设置。

一种用于测试存储卡使用寿命的老化机试验设备具有以下有益效果: