[发明专利]一种芯片接口测试探针卡及测试方法有效
| 申请号： | 202011643868.5 | 申请日： | 2020-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN112782561B | 公开（公告）日： | 2023-07-21 |
| 发明（设计）人： | 吕娅;顾向前;辅俊海;成学娇 | 申请（专利权）人： | 海光信息技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/073 |
| 代理公司： | 北京市广友专利事务所有限责任公司 11237 | 代理人： | 张仲波 |
| 地址： | 300000 天津市滨海新区天津华苑*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明实施例公开一种芯片接口测试探针卡及测试方法，涉及芯片测试技术领域，便于对芯片高速IO接口进行测试。所述探针卡包括印制电路板，所述印制电路板第一表面具有测试针点，所述印制电路板第二表面上设有基板，所述基板上布设有环回电路，在所述基板上还设有用于安装探针的安装部，所述环回电路包括输入端与输出端，所述输入端与输出端分别连接于所述安装部。本发明适用于晶圆级芯片接口测试场景中，特别是高速IO接口测试场合。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 接口 测试 探针 方法 | ||
【主权项】：
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