[发明专利]一种高迁移率TFT器件用靶材的使用方法在审

专利信息
申请号: 202011641556.0 申请日: 2020-12-31
公开(公告)号: CN112813398A 公开(公告)日: 2021-05-18
发明(设计)人: 汤惠淋;宋世金;朱刘;邵学亮 申请(专利权)人: 先导薄膜材料(广东)有限公司
主分类号: C23C14/35 分类号: C23C14/35;C23C14/02;C23C14/08;C23C14/52;C23C14/54;H01L29/10
代理公司: 广州三环专利商标代理有限公司 44202 代理人: 颜希文;朱燕华
地址: 511517 广东省清*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提出一种高迁移率TFT器件用靶材的使用方法,包括:安装靶材;清洗衬底;通过直流磁控溅射在衬底上生长薄膜;靶材使用中,监测靶材的沟道深度,沟道深度每增加0.1mm,则溅射功率增加0.02‑0.15W/cm2。本发明的使用方法能够获得组分均一、厚度无明显差异、以及透明导电性能稳定的镨掺杂非晶铟镓锌氧化物薄膜,解决了因靶材沟道加深而导致的同批次薄膜的厚度误差较大的问题,有效提高了靶材的利用率。
搜索关键词: 一种 迁移率 tft 器件 用靶材 使用方法
【主权项】:
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