[发明专利]一种阻尼性能的微观测试方法在审

专利信息
申请号: 202011625294.9 申请日: 2020-12-30
公开(公告)号: CN112798633A 公开(公告)日: 2021-05-14
发明(设计)人: 郭强;杨淦婷;陆安粮;刘煜;韩一帆;赵蕾 申请(专利权)人: 上海交通大学
主分类号: G01N23/2251 分类号: G01N23/2251;G01N23/2202
代理公司: 上海段和段律师事务所 31334 代理人: 李佳俊;郭国中
地址: 200240 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供了一种阻尼性能的微观测试方法,该方法具体步骤包括:A、将待测材料加工成微纳柱体;B、将微纳柱体进行单轴压缩实验,得到应力‑应变曲线;C、以应力‑应变曲线上弹性变形阶段的应力作为最大载荷,对微纳柱体进行等应力幅度的周期性单向压缩实验,得到工程应力‑时间曲线和工程应变‑时间曲线;D、通过统计步骤C中工程应力‑时间曲线和工程应变‑时间曲线中应变波滞后于应力波的时间,然后计算得到待测材料的阻尼系数。本发明提供了一种可以在微米尺度对材料阻尼性能进行测试的方法,能够准确测量材料的阻尼性能,检测分析精度高,适用性广泛。
搜索关键词: 一种 阻尼 性能 微观 测试 方法
【主权项】:
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