[发明专利]一种半导体激光器的空间模式检测系统及检测方法有效
| 申请号： | 202011603029.0 | 申请日： | 2020-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN112729780B | 公开（公告）日： | 2022-06-21 |
| 发明（设计）人： | 林星辰;赵宇;聂真威;韩冰;陈媛;王俊杰 | 申请（专利权）人： | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 长春中科长光知识产权代理事务所(普通合伙) 22218 | 代理人： | 高一明;郭婷 |
| 地址： | 130033 吉林省长春*** | 国省代码： | 吉林;22 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请涉及半导体激光器技术领域，具体提供一种基于高分辨率双通光栅光谱仪的空间模式检测系统以及检测方法，所述空间模式检测系统包括准直单元、扩束单元、光束筛选单元、聚焦单元、衍射单元、转动单元、第一反射镜、场镜以及接收屏；通过采用高精度双通道光栅光谱仪结构，将半导体激光器的模式在空间上分离出来，投射到接收屏上，进一步通过CCD可直观地观察出模式分布；本申请提供的检测系统以及检测方法能够有效地检测半导体激光器的空间模式数量，有助于了解半导体激光器的模式特性、改进优化半导体激光器的设计。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 半导体激光器 空间 模式 检测 系统 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院长春光学精密机械与物理研究所，未经中国科学院长春光学精密机械与物理研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202011603029.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种双组份家装美缝剂及其制备方法
- 下一篇：一种无碱高捻高强滤料基布生产装置
