[发明专利]模拟设备单点上下电的测试方法、装置、设备及存储介质在审
| 申请号： | 202011601022.5 | 申请日： | 2020-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN112732498A | 公开（公告）日： | 2021-04-30 |
| 发明（设计）人： | 靳嘉晖 | 申请（专利权）人： | 北京浪潮数据技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G06F11/273 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 史翠 |
| 地址： | 100085 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种模拟设备单点上下电的测试方法、装置、设备及存储介质，通过将包括输入输出扩展器和升降压转换器的测试治具连接于测试主机与被测存储设备之间，测试主机向该输入输出扩展器发送热插拔控制命令(上电命令或下电命令)以通过升降压转换器调节对被测存储设备的输出电压，进而根据被测存储设备的设备状态(上电状态还是下电状态)确定被测存储设备是否成功执行热插拔控制命令。这种测试治具相较于Quarch设备价格低廉，且不存在一台测试主机搭载多个测试治具进行多个被测存储设备的单点上下电测试时出现各被测存储设备互相影响的情况，提高了存储设备单点上下电测试的成功性，降低了存储设备单点上下电测试的成本。 | ||
| 搜索关键词： | 模拟 设备 单点 上下 测试 方法 装置 存储 介质 | ||
【主权项】：
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