[发明专利]模拟设备单点上下电的测试方法、装置、设备及存储介质在审
申请号: | 202011601022.5 | 申请日: | 2020-12-29 |
公开(公告)号: | CN112732498A | 公开(公告)日: | 2021-04-30 |
发明(设计)人: | 靳嘉晖 | 申请(专利权)人: | 北京浪潮数据技术有限公司 |
主分类号: | G06F11/22 | 分类号: | G06F11/22;G06F11/273 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 史翠 |
地址: | 100085 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 模拟 设备 单点 上下 测试 方法 装置 存储 介质 | ||
1.一种模拟设备单点上下电的测试方法,其特征在于,基于通过测试治具与被测存储设备连接的测试主机,所述测试治具包括输入输出扩展器和升降压转换器,所述输入输出扩展器的输入端与所述测试主机的第一数据输出端连接,所述输入输出扩展器的输出端与所述升降压转换器的控制端连接,所述升降压转换器的电源输入端与所述测试主机的电源输出端连接,所述升降压转换器的电源输出端与所述被测存储设备的电源输入端连接,所述测试方法包括:
向所述输入输出扩展器发送热插拔控制命令,以使所述升降压转换器对所述被测存储设备输出与所述热插拔控制命令对应的输出电压;
获取所述被测存储设备的设备状态;
根据所述被测存储设备的设备状态确定所述被测存储设备的热插拔结果;
若所述被测存储设备的设备状态为与所述热插拔控制命令对应的设备状态,则确定对所述被测存储设备控制成功;
其中,所述测试治具与所述被测存储设备一一对应,所述热插拔控制命令具体为上电命令或下电命令,所述设备状态具体为上电状态或下电状态。
2.根据权利要求1所述的测试方法,其特征在于,所述测试主机的第一数据输出端具体为集成电路总线信号接口;
相应的,所述热插拔控制命令具体为智能平台管理接口命令。
3.根据权利要求2所述的测试方法,其特征在于,所述输入输出扩展器具体为PCA9555,所述升降压转换器具体为SY9329C。
4.根据权利要求1所述的测试方法,其特征在于,所述测试主机的第二数据输出端与所述被测存储设备的输出输入端连接;
在所述向所述输入输出扩展器发送热插拔控制命令之前,所述测试方法还包括:
向所述被测存储设备发送负载命令,以使所述被测存储设备运行于工作状态;
其中,所述负载命令包括负载任务项、所述负载任务项的执行顺序和所述负载任务项的执行次数,所述负载任务项包括读写操作任务、格式化任务、低级格式化任务、高级格式化任务、创建删除名称空间任务、不间断业务的固件升降级任务、设备重置任务和读写校验操作任务。
5.根据权利要求1所述的测试方法,其特征在于,在所述向所述输入输出扩展器发送热插拔控制命令之前,还包括:
向所述输入输出扩展器发送电压控制命令,以使所述升降压转换器对所述被测存储设备输出与所述电压控制命令对应的非正常输出电压。
6.根据权利要求1所述的测试方法,其特征在于,所述获取所述被测存储设备的设备状态具体为:
基于所述测试主机与所述被测存储设备之间的PCIE总线,利用NVMe命令获取所述被测存储设备的设备状态。
7.根据权利要求1所述的测试方法,其特征在于,所述获取所述被测存储设备的设备状态具体为:
向所述输入输出扩展器发送设备状态查询命令以获取所述被测存储设备的设备状态。
8.一种模拟设备单点上下电的测试装置,其特征在于,包括:
发送单元,用于向测试治具的输入输出扩展器发送热插拔控制命令,以使所述测试治具的升降压转换器对被测存储设备输出与所述热插拔控制命令对应的输出电压;
获取单元,用于获取所述被测存储设备的设备状态;
确定单元,用于根据所述被测存储设备的设备状态确定所述被测存储设备的热插拔结果;若所述被测存储设备的设备状态为与所述热插拔控制命令对应的设备状态,则确定对所述被测存储设备控制成功;
其中,所述输入输出扩展器的输入端与所述测试主机的第一数据输出端连接,所述输入输出扩展器的输出端与所述升降压转换器的控制端连接,所述升降压转换器的电源输入端与所述测试主机的电源输出端连接,所述升降压转换器的电源输出端与所述被测存储设备的电源输入端连接;所述测试治具与所述被测存储设备一一对应,所述热插拔控制命令具体为上电命令或下电命令,所述设备状态具体为上电状态或下电状态。
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