[发明专利]模拟设备单点上下电的测试方法、装置、设备及存储介质

说明书

本发明公开了一种模拟设备单点上下电的测试方法、装置、设备及存储介质，通过将包括输入输出扩展器和升降压转换器的测试治具连接于测试主机与被测存储设备之间，测试主机向该输入输出扩展器发送热插拔控制命令(上电命令或下电命令)以通过升降压转换器调节对被测存储设备的输出电压，进而根据被测存储设备的设备状态(上电状态还是下电状态)确定被测存储设备是否成功执行热插拔控制命令。这种测试治具相较于Quarch设备价格低廉，且不存在一台测试主机搭载多个测试治具进行多个被测存储设备的单点上下电测试时出现各被测存储设备互相影响的情况，提高了存储设备单点上下电测试的成功性，降低了存储设备单点上下电测试的成本。

技术领域

本发明涉及存储技术领域，特别是涉及一种模拟设备单点上下电的测试方法、装置、设备及存储介质。

背景技术

在对存储设备性能进行测试时，常需要对被测存储设备执行单点上下电的操作，如采用人工热插拔的方式，则耗费大量人力。因此，现有技术中通常采用进口的热插拔测试系统——Quarch设备模拟单点热拔插。由于进行存储设备单点上下电测试时，往往需要对多个被测存储设备执行模拟热插拔工作，因此需要搭载多个Quarch设备分别执行不同被测存储设备的模拟热插拔控制。但Quarch设备价格昂贵，且维护起来较为复杂，如设备异常需返回美国进行维修，且维修费用非常昂贵。另外Quarch设备具有一个明显的缺陷，如果在一台测试主机上搭载多个Quarch设备对不同的被测存储设备进行上下电控制，各被测存储设备之间会相互影响，即在模拟热插拔过程中，部分被测存储设备的上下电模拟测试会停止。

提供一种优化的存储设备单点上下电测试方案，是本领域技术人员需要解决的技术问题。

发明内容

本发明的目的是提供一种模拟设备单点上下电的测试方法、装置、设备及存储介质，用于提高存储设备单点上下电测试的成功性，降低存储设备单点上下电测试的成本。

为解决上述技术问题，本发明提供一种模拟设备单点上下电的测试方法，基于通过测试治具与被测存储设备连接的测试主机，所述测试治具包括输入输出扩展器和升降压转换器，所述输入输出扩展器的输入端与所述测试主机的第一数据输出端连接，所述输入输出扩展器的输出端与所述升降压转换器的控制端连接，所述升降压转换器的电源输入端与所述测试主机的电源输出端连接，所述升降压转换器的电源输出端与所述被测存储设备的电源输入端连接，所述测试方法包括：

向所述输入输出扩展器发送热插拔控制命令，以使所述升降压转换器对所述被测存储设备输出与所述热插拔控制命令对应的输出电压；

获取所述被测存储设备的设备状态；

根据所述被测存储设备的设备状态确定所述被测存储设备的热插拔结果；

若所述被测存储设备的设备状态为与所述热插拔控制命令对应的设备状态，则确定对所述被测存储设备控制成功；

其中，所述测试治具与所述被测存储设备一一对应，所述热插拔控制命令具体为上电命令或下电命令，所述设备状态具体为上电状态或下电状态。

可选的，所述测试主机的第一数据输出端具体为集成电路总线信号接口；

相应的，所述热插拔控制命令具体为智能平台管理接口命令。

可选的，所述输入输出扩展器具体为PCA9555，所述升降压转换器具体为SY9329C。

可选的，所述测试主机的第二数据输出端与所述被测存储设备的输出输入端连接；

在所述向所述输入输出扩展器发送热插拔控制命令之前，所述测试方法还包括：

向所述被测存储设备发送负载命令，以使所述被测存储设备运行于工作状态；