[发明专利]一种防止芯片关键参数偏移的方法及装置在审
| 申请号： | 202011589840.8 | 申请日： | 2020-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN112611958A | 公开（公告）日： | 2021-04-06 |
| 发明（设计）人： | 虞君新 | 申请（专利权）人： | 无锡圆方半导体测试有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 孟金喆 |
| 地址： | 214192 江苏省无锡市锡山区*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开一种防止芯片关键参数偏移的方法及装置，该方法包括：晶圆上机正常测试前，将测试机连接转换切换器，将转换切换器连接探针台和测试Socket座，将样片放置在所述测试Socket座上，测试机测试样片的关键参数值并存入存储装置；芯片测试前，用户根据产品需求设定检测频率，测试机自动切换转换切换器连接探针台，当累计测试芯片达到所设定的检测频率后，测试机自动切换转换切换器连接测试Socket座；计算单元调取关键参数值，计算偏移量，若在设定合格范围内，则测试机自动切换转换切换器连接探针台，继续正常测试，否则自动停止测试。本发明能够有效的自动防止测试机误差异常，确保芯片关键参数的准确性及一致性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 防止 芯片 关键 参数 偏移 方法 装置 | ||
【主权项】：
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