[发明专利]高分辨瞬态光场复振幅测量装置及方法在审
| 申请号： | 202011544090.2 | 申请日： | 2020-12-23 |
| 公开（公告）号： | CN112763080A | 公开（公告）日： | 2021-05-07 |
| 发明（设计）人： | 段亚轩;陈晓义;达争尚 | 申请（专利权）人： | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G01J9/00 | 分类号： | G01J9/00 |
| 代理公司： | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人： | 王凯敏 |
| 地址： | 710119 陕西省西*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 为了解决目前采用相位恢复技术直接测量光场复振幅时，无法实现光场复振幅的瞬态测量，以及测量精度不高的问题，本发明提出一种高分辨瞬态光场复振幅测量装置及方法。本发明利用混合调制光栅将待测光场分束为四束等光强的光束，并在它们传播过程中分别进行不同的相位调制，然后利用探测器获取调制后的四束光场强度信息，最后通过相位恢复方法计算得到待测光场复振幅。本发明利用瞬时获取的四个不同的衍射光强信息，实现了光场复振幅的瞬态高分辨测量；本发明不包含复杂的扫描过程，既提高了测量效率，又不会引入由于扫描过程造成的光路倾斜误差或者距离误差。 | ||
| 搜索关键词： | 分辨 瞬态 光场复 振幅 测量 装置 方法 | ||
【主权项】：
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