[发明专利]一种一体化微纳传感器封装测试设备在审
申请号: | 202011522894.2 | 申请日: | 2020-12-21 |
公开(公告)号: | CN112665626A | 公开(公告)日: | 2021-04-16 |
发明(设计)人: | 杨潞霞 | 申请(专利权)人: | 太原师范学院 |
主分类号: | G01D18/00 | 分类号: | G01D18/00 |
代理公司: | 太原申立德知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 14115 | 代理人: | 郭海燕 |
地址: | 030619 山*** | 国省代码: | 山西;14 |
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摘要: | 本发明涉及传感器封装测试技术领域,且公开了一种一体化微纳传感器封装测试设备,包括微纳传感器封装测试设备机壳,所述微纳传感器封装测试设备机壳底部的两侧均固定连接有万向轮。该一体化微纳传感器封装测试设备,通过活动板对显示屏进行防护,避免其在闲置过程中受异物等撞击发生损坏,然后手动将连接杆向上拨动,使得挡块位于凹槽的内部,此时将安装板和操作键盘推入第二防护腔的内部,通过活动门对操作键盘进行防护,避免操作键盘上掉落较多的异物,影响其后续的操作,当需要进行操作时,反之上述操作将显示屏和操作键盘漏出即可进行操作,从而达到了操作更为便利,防护效果更加好且使用更加便利的目的。 | ||
搜索关键词: | 一种 一体化 传感器 封装 测试 设备 | ||
【主权项】:
暂无信息
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