[发明专利]一种一体化微纳传感器封装测试设备

说明书

本发明涉及传感器封装测试技术领域，且公开了一种一体化微纳传感器封装测试设备，包括微纳传感器封装测试设备机壳，所述微纳传感器封装测试设备机壳底部的两侧均固定连接有万向轮。该一体化微纳传感器封装测试设备，通过活动板对显示屏进行防护，避免其在闲置过程中受异物等撞击发生损坏，然后手动将连接杆向上拨动，使得挡块位于凹槽的内部，此时将安装板和操作键盘推入第二防护腔的内部，通过活动门对操作键盘进行防护，避免操作键盘上掉落较多的异物，影响其后续的操作，当需要进行操作时，反之上述操作将显示屏和操作键盘漏出即可进行操作，从而达到了操作更为便利，防护效果更加好且使用更加便利的目的。

技术领域

本发明涉及传感器封装测试技术领域，具体为一种一体化微纳传感器封装测试设备。

背景技术

传感器是一种检测装置，能感受到被测量的信息，并能将感受到的信息，按一定规律变换成为电信号或其他所需形式的信息输出，以满足信息的传输、处理、存储、显示、记录和控制等要求，传感器的特点包括：微型化、数字化、智能化、多功能化、系统化、网络化，它是实现自动检测和自动控制的首要环节，传感器的存在和发展，让物体有了触觉、味觉和嗅觉等感官，让物体慢慢变得活了起来，通常根据其基本感知功能分为热敏元件、光敏元件、气敏元件、力敏元件、磁敏元件、湿敏元件、声敏元件、放射线敏感元件、色敏元件和味敏元件等十大类，微纳传感器在生产过程中需要用测试设备对其进行封装测试。

现有技术中的一体化微纳传感器封装测试设备其显示屏和操作键盘一般是裸露在外进行操作，这就导致其在闲置时显示屏容易受外力而发生损坏，且操作键盘上也容易掉落较多的异物，影响后续操作，给其使用带来较大的不便，所以现在提出一种一体化微纳传感器封装测试设备来解决上述问题。

发明内容

(一)解决的技术问题

针对现有技术的不足，本发明提供了一种一体化微纳传感器封装测试设备，具备操作更为便利，防护效果更加好且使用更加便利等优点，解决了上述背景技术中提出的问题。

(二)技术方案

为实现上述操作更为便利，防护效果更加好且使用更加便利的目的，本发明提供如下技术方案：一种一体化微纳传感器封装测试设备，包括微纳传感器封装测试设备机壳，所述微纳传感器封装测试设备机壳底部的两侧均固定连接有万向轮，所述微纳传感器封装测试设备机壳的右侧固定连接有防护箱，所述防护箱的内部固定连接有隔板，所述隔板的顶部呈第一防护腔，所述隔板的底部呈第二防护腔，所述第一防护腔的内部固定连接有安装框，所述安装框的内部固定连接有显示屏，所述防护箱顶部的正面开设有通孔，所述通孔的内部滑动连接有活动板，所述活动板的顶部并位于防护箱的上方固定连接有限位板，所述防护箱的顶部活动连接有L型插板，所述活动板背面的底部开设有与L型插板对应的插槽，所述L型插板的底部固定连接有第二滑块，所述防护箱的顶部开设有与第二滑块对应的第二滑槽，所述第二滑块滑动连接于第二滑槽的内部，所述第二防护腔的内部活动连接有安装板，所述安装板的正面固定连接有操作键盘，所述安装板正面的底部固定连接有固定板，所述固定板的顶部活动连接有连接杆，所述连接杆的底端并位于固定板的底部固定连接有挡块，所述固定板的底部开设有与挡块对应的凹槽，所述挡块的顶部并位于连接杆的表面固定连接有第二张紧弹簧，所述第二张紧弹簧的顶端与凹槽的内壁固定连接，所述第二防护腔的正面活动连接有活动门。

优选的，所述第二滑块的背面固定连接有第一张紧弹簧，所述第一张紧弹簧的一端与第二滑槽的内壁固定连接。

优选的，所述活动板正面的底部固定连接有借力块，所述借力块位于隔板的正面。

优选的，所述活动门正面的右侧固定连接有合页，所述活动门与防护箱之间通过合页铰接。

优选的，所述防护箱的底部固定连接有支撑板，所述支撑板的底部与微纳传感器封装测试设备机壳固定连接。

优选的，所述隔板顶部的正面开设有与活动板对应的限位槽，所述限位槽的内底壁固定连接有缓冲垫。