[发明专利]一种高性能DFB激光外延片制备方法在审

专利信息
申请号: 202011509480.6 申请日: 2020-12-19
公开(公告)号: CN112636168A 公开(公告)日: 2021-04-09
发明(设计)人: 李洪雨;张永;单智发;姜伟;陈阳华 申请(专利权)人: 全磊光电股份有限公司
主分类号: H01S5/12 分类号: H01S5/12;C09K13/04
代理公司: 苏州翔远专利代理事务所(普通合伙) 32251 代理人: 刘计成
地址: 361000 福建省厦门市火炬*** 国省代码: 福建;35
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摘要: 发明公开了一种高性能DFB激光外延片制备方法,其包括如下步骤:首先在InP衬底上由下至上依次沉积生长缓冲层、限制层、下波导层、量子阱层、上波导层、上限制层、缓冲层、腐蚀阻挡层、InP包层、光栅层和InP帽层,然后匀胶曝光显影后,分两次用蚀刻液对外延片进行腐蚀,第一次腐蚀会刻蚀过光栅层并保留一定厚度的光栅层,然后去除光刻胶,第二次采用选择性蚀刻液蚀刻掉剩余的光栅层,最后在外延片上进行二次生长,由下至上依次生长的InP层、势垒渐变层和欧姆接触层。采用两种蚀刻溶液进行光栅蚀刻,通过第一次蚀刻到光栅层的位置,去除表面光刻胶掩膜,第二次蚀刻使用具有选择性腐蚀的溶液腐蚀掉剩余的光栅层,提高了光栅蚀刻的均匀性以及光栅占空的均匀性,提升了DFB激光器的性能。
搜索关键词: 一种 性能 dfb 激光 外延 制备 方法
【主权项】:
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