[发明专利]Nand闪存自动坏块标记方法、装置、存储介质和终端在审
| 申请号： | 202011466653.0 | 申请日： | 2020-12-14 |
| 公开（公告）号： | CN112331252A | 公开（公告）日： | 2021-02-05 |
| 发明（设计）人： | 黄凯怡;唐维强;周幸福 | 申请（专利权）人： | 深圳市芯天下技术有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/00 | 分类号： | G11C29/00;G11C29/18;G11C29/56 |
| 代理公司： | 佛山市海融科创知识产权代理事务所(普通合伙) 44377 | 代理人： | 陈志超;唐敏珊 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市龙岗区横*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种Nand闪存自动坏块标记方法、装置、存储介质和终端，整个过程在单片机中实现，使Nand flash中所有块在全部要求的数据模式进行坏块查找，若某一块在某种数据模式下出现数据读出错误，则标记该块为坏块，最终完成Nand flash中所有坏块标记；本技术方案在单片机中完成一个坏块标记耗时远比机台短，特别在校验数据时，单片机程序中可任意配置ECC纠错位数，而机台要实现同样条件判断的耗时是非常长的，单片机程序五分钟内即可完成一个坏块标记；而且单片机成本比机台价格便宜很多，用较低价格购入多片单片机就可实现大量nand flash并行测试，在短时间内完成大量nand flash的坏块标记。 | ||
| 搜索关键词： | nand 闪存 自动 标记 方法 装置 存储 介质 终端 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市芯天下技术有限公司，未经深圳市芯天下技术有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202011466653.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种环保型农村固体垃圾处理回收装置
- 下一篇：一种多功能玻璃纤维床垫
