[发明专利]存储装置及其性能控制方法在审
| 申请号： | 202011456629.9 | 申请日： | 2020-12-10 |
| 公开（公告）号： | CN113138714A | 公开（公告）日： | 2021-07-20 |
| 发明（设计）人： | 金荣德;李平雨;苏曼什·詹妮亚乌拉文卡塔 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G06F3/06 | 分类号： | G06F3/06 |
| 代理公司： | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人： | 张川绪;刘灿强 |
| 地址： | 韩国京畿*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 提供了一种存储装置及其性能控制方法。所述装置包括PMU和可通信地连接到PMU的控制器。PMU确定所述装置的操作功率超过阈值，并且将信号发送给控制器以触发功率降低操作。控制器对一个或多个操作进行节流，直到操作功率低于阈值为止。一些实施例包括用于控制存储装置的性能的方法。所述方法包括通过PMU测量与存储装置相关联的功耗。所述方法包括通过PMU确定功耗是否大于阈值。作为响应，所述方法可包括设置性能节流。所述方法可包括通过PMU确定功耗是否小于阈值。作为响应，所述方法可包括释放性能节流。 | ||
| 搜索关键词： | 存储 装置 及其 性能 控制 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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