[发明专利]存储器子系统自测操作有效
| 申请号： | 202011455779.8 | 申请日： | 2020-12-10 |
| 公开（公告）号： | CN113066519B | 公开（公告）日： | 2022-07-26 |
| 发明（设计）人： | N·A·埃克尔;K·A·本杰明 | 申请（专利权）人： | 美光科技公司 |
| 主分类号： | G11C29/36 | 分类号： | G11C29/36;G11C29/38 |
| 代理公司： | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人： | 王龙 |
| 地址： | 美国爱*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请案涉及存储器子系统自测操作。一种方法包含通过存储器子系统控制器的组件，请求对与可耦合到所述控制器的存储器装置相关联的数据路径的控制。所述方法可包含：通过所述组件，产生对应于测试所述存储器装置的操作的数据；以及通过所述组件，致使所述数据注入到所述数据路径，使得所述数据写入到所述存储器装置。所述方法还可包括：通过所述组件，读取写入到所述存储器装置的所述数据；以及通过所述组件，确定通过所述组件从所述存储器装置读取的所述数据是否与写入到所述存储器装置的所述数据匹配。 | ||
| 搜索关键词： | 存储器 子系统 自测 操作 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于美光科技公司，未经美光科技公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202011455779.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：用于有向无环流程图的布局方法、装置及电子设备
- 下一篇：驻极体
