[发明专利]一种闪存芯片分析方法、装置、电子设备及存储介质在审
| 申请号： | 202011446240.6 | 申请日： | 2020-12-11 |
| 公开（公告）号： | CN112599181A | 公开（公告）日： | 2021-04-02 |
| 发明（设计）人： | 倪黄忠;范厚奎 | 申请（专利权）人： | 深圳市时创意电子有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/42 | 分类号： | G11C29/42;G11C29/50 |
| 代理公司： | 深圳盛德大业知识产权代理事务所(普通合伙) 44333 | 代理人： | 贾振勇 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市宝安区新桥街道新发东路*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明适用于计算机技术领域，提供了一种闪存芯片分析方法、装置、电子设备及存储介质，所述方法包括以下步骤：通过BCH码对闪存芯片进行数据保持能力测试；对不同状态下的所述存储芯片进行烘烤，同时通过所述BCH码对所述闪存芯片内不同擦除次数的物理存储块的数据保持能力进行测试；记录并分析所述闪存芯片在多个时间点的测试结果，以得到所述闪存芯片的特性。本发明提供的方法，解决了现有闪存芯在不同测试场景及平台上使用不稳定、使用寿命低的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 闪存 芯片 分析 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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