[发明专利]基于同轴带状线谐振器的复介电常数测试系统及测试方法有效
| 申请号： | 202011442000.9 | 申请日： | 2020-12-08 |
| 公开（公告）号： | CN112505429B | 公开（公告）日： | 2022-03-15 |
| 发明（设计）人： | 彭亦童;高冲;苗润;李恩;郑虎;张金涛 | 申请（专利权）人： | 电子科技大学 |
| 主分类号： | G01R27/26 | 分类号： | G01R27/26 |
| 代理公司： | 电子科技大学专利中心 51203 | 代理人： | 吴姗霖 |
| 地址： | 611731 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明提供一种基于同轴带状线谐振器的复介电常数测试系统及测试方法，属于微波材料介电性能测试技术领域。本发明测试系统采用带状线电容器与终端开路同轴线构成一个两端开路的谐振器，通过在测试系统的终端开路同轴线的开路端加载样品测试谐振频率与品质因数，进而反演得到材料的复介电常数。本发明测试系统的具有谐振器尺寸小、能量耦合稳定、能够手持测试，且对待测样品形状大小要求小、测试操作简单、测试精度高的特点。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 同轴 带状线 谐振器 介电常数 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
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