[发明专利]一种PCB表面处理金属薄层质量分析方法在审

专利信息
申请号: 202011430349.0 申请日: 2020-12-09
公开(公告)号: CN112577982A 公开(公告)日: 2021-03-30
发明(设计)人: 郑剑;罗国金 申请(专利权)人: 广州添利电子科技有限公司
主分类号: G01N23/22 分类号: G01N23/22;G01N23/2202
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 510000 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种PCB表面处理金属薄层质量分析方法,包括以下步骤:使用剪刀,自动取样机将所需要测量区域从PCB板中取出;喷金处理;测试样品要牢固地固定在金属样品台上,然后将样品台安装在测试平台的斜面上;用电子束沉积第一层保护层;完成电子束沉积之后,使用聚焦离子束沉积第二层保护层;调整测量平台倾斜角度,以保证样品表面能垂直于聚焦离子束的方向进行切割;调整样品倾斜角,即可进行观测。本发明具备由双束扫描电镜对样品进行加工及测试,可以避免制样过程中接触化学溶液、机械应力及杂质污染等影响,通过对双束扫描电镜的测试角度的优化,可以达到近乎于平面测试效果,以得到准确的测量结果,从而可以快速地完成一系列测试的优点。
搜索关键词: 一种 pcb 表面 处理 金属 薄层 质量 分析 方法
【主权项】:
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