[发明专利]基于光镊和自旋缺陷的多物理参数传感的装置和方法有效
| 申请号： | 202011424322.0 | 申请日： | 2020-12-08 |
| 公开（公告）号： | CN112255578B | 公开（公告）日： | 2021-03-09 |
| 发明（设计）人： | 李翠红;刘承;陈志明;蒋静;李楠;胡慧珠 | 申请（专利权）人： | 之江实验室;浙江大学 |
| 主分类号： | G01R33/032 | 分类号： | G01R33/032;G01K11/20 |
| 代理公司： | 杭州求是专利事务所有限公司 33200 | 代理人： | 贾玉霞 |
| 地址： | 310023 浙江*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种基于光镊和自旋缺陷的多物理参数传感的装置和方法，该装置包括第一激光器、第二激光器、第一光调制器、第二光调制器、分束器、合束器、物镜、透镜、第一光电探测器、第二光电探测器、微波源、微波调制器、微波天线、双色片、荧光探测器、控制显示系统。通过在光阱中悬浮含有自旋缺陷的微纳米级尺寸的金刚石颗粒，根据金刚石颗粒的运动，得到各种物理参数。本发明的装置和方法可以实现同一空间位置的多物理参数传感，避免了信息的梯度差；且本发明的装置将不同探测对象所需的系统集成到一起，实现单个设备的多物理参数探测，节省载荷空间、节约成本。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 自旋 缺陷 物理 参数 传感 装置 方法 | ||
【主权项】：
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