[发明专利]三维变形测量系统、方法、装置和存储介质有效
申请号: | 202011424019.0 | 申请日: | 2020-12-08 |
公开(公告)号: | CN112556596B | 公开(公告)日: | 2022-07-19 |
发明(设计)人: | 刘肖琳;于起峰;傅愉;张跃强;曹动 | 申请(专利权)人: | 深圳大学 |
主分类号: | G01B11/16 | 分类号: | G01B11/16 |
代理公司: | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人: | 熊永强;王勤 |
地址: | 518000 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本申请实施例提供了一种三维变形测量系统、方法、装置和存储介质,其中,三维变形测量系统包括:高分辨相机,用于获取待测量物体在变形前的第一全局图,以及待测量物体在变形后的第二全局图;望远相机,用于获取待测量物体在变形前的包含预设的测量点的第一局部图,以及待测量物体在变形后的包含测量点的第二局部图;激光测距仪,用于获取测量点在待测量物体变形前的第一深度信息,以及测量点在待测量物体变形后的第二深度信息;处理器,用于根据第一全局图、第一局部图、第二全局图、第二局部图、第一深度信息和第二深度信息获取测量点的三维变形信息。采用本申请实施例可以在降低测量成本的同时实现三维变形信息的快速测量。 | ||
搜索关键词: | 三维 变形 测量 系统 方法 装置 存储 介质 | ||
【主权项】:
暂无信息
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