[发明专利]三维变形测量系统、方法、装置和存储介质

权利要求书

1.一种三维变形测量系统，其特征在于，所述三维变形测量系统，包括：

高分辨相机，用于获取待测量物体在变形前的第一全局图，以及所述待测量物体在变形后的第二全局图；

望远相机，用于获取所述待测量物体在变形前的包含预设的测量点的第一局部图，以及所述待测量物体在变形后的包含所述测量点的第二局部图；

激光测距仪，用于获取所述测量点在所述待测量物体变形前的第一深度信息，以及所述测量点在所述待测量物体变形后的第二深度信息；

处理器，用于设定全局控制点，根据所述第一全局图、所述第一局部图和所述全局控制点获取所述测量点的第一面内像素坐标，根据所述第二全局图、所述第二局部图和所述全局控制点获取所述测量点的第二面内像素坐标，并根据所述第一面内像素坐标、所述第二面内像素坐标、所述第一深度信息和所述第二深度信息获取所述测量点的三维变形信息。

2.根据权利要求1所述的三维变形测量系统，其特征在于，所述处理器，还用于：

根据所述第一全局图和所述第一局部图获取所述三维变形测量系统的角度信息，或

根据所述第二全局图和所述第二局部图获取所述三维变形测量系统的角度信息；

根据所述角度信息获取前往下一个测量点的路径信息。

3.根据权利要求1所述的三维变形测量系统，其特征在于，所述三维变形测量系统，还包括：

经纬仪，用于承载所述望远相机和所述激光测距仪，并带动所述望远相机和所述激光测距仪在俯仰和偏航方向上转动。

4.根据权利要求3所述的三维变形测量系统，其特征在于，

所述激光测距仪的激光等效发射点设于所述经纬仪的俯仰和偏航方向的旋转轴的交点处。

5.根据权利要求1-4中任意一项所述的三维变形测量系统，其特征在于，

所述望远相机与所述激光测距仪同轴设置。

6.一种三维变形测量方法，其特征在于，所述变形测量方法，包括：

获取待测量物体在变形前的第一全局图，以及所述待测量物体在变形后的第二全局图；

获取所述待测量物体在变形前的包含预设的测量点的第一局部图，以及所述待测量物体在变形后的包含所述测量点的第二局部图；

获取所述测量点在所述待测量物体变形前的第一深度信息，以及所述测量点在所述待测量物体变形后的第二深度信息；

设定全局控制点；

根据所述第一全局图、所述第一局部图和所述全局控制点获取所述测量点的第一面内像素坐标；

根据所述第二全局图、所述第二局部图和所述全局控制点获取所述测量点的第二面内像素坐标；

根据所述第一面内像素坐标、所述第二面内像素坐标、所述第一深度信息和所述第二深度信息获取所述测量点的三维变形信息。

7.一种三维变形测量装置，包括存储器和处理器，其特征在于，

所述存储器用于存储计算机可读指令；

所述处理器用于执行所述计算机可读指令以实现如权利要求6所述的方法。

8.一种可读计算机存储介质，存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序在被处理器执行时实现如权利要求6所述的方法。