[发明专利]一种下置式超声波探头架及探测系统在审

专利信息
申请号: 202011423270.5 申请日: 2020-12-08
公开(公告)号: CN112557519A 公开(公告)日: 2021-03-26
发明(设计)人: 韩志雄;金耀辉;桂琳琳;陈力;杨文;韩冬;吴笛 申请(专利权)人: 武汉中科创新技术股份有限公司
主分类号: G01N29/265 分类号: G01N29/265;G01N29/04
代理公司: 武汉智嘉联合知识产权代理事务所(普通合伙) 42231 代理人: 丁倩
地址: 430000 湖北省武汉市东湖新技术开发区光谷七路*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明涉及一种下置式超声波探头架,包括安装座以及多个探测单元,探测单元包括驱动装置、升降组件以及探头组件;升降组件包括探头支杆以及两根连杆;两根连杆的一端与安装座转动连接,两根连杆的另一端与探头支杆转动连接,两根连杆平行设置;升降组件固定于安装座上,升降组件的升降端与探头支杆连接,并驱动探头支杆升降运动;探头组件安装于探头支杆上,多个探头组件并排设置,并用于检测待测板;待测板由外部输送装置输送,并沿探头组件排布方向的垂直方向由探头组件的上方通过。本发明具有待测板检测不受灰尘异物干扰,探头升降驱动平稳、检测结果精确的技术效果。
搜索关键词: 一种 下置式 超声波 探头 探测 系统
【主权项】:
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