[发明专利]数据的分析/校正/方法及系统、存储介质、磁性编码器在审
申请号: | 202011409593.9 | 申请日: | 2020-12-04 |
公开(公告)号: | CN114593754A | 公开(公告)日: | 2022-06-07 |
发明(设计)人: | 袁卫华 | 申请(专利权)人: | 华大半导体有限公司 |
主分类号: | G01D5/14 | 分类号: | G01D5/14;G01D18/00 |
代理公司: | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人: | 张燕 |
地址: | 201203 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明提供一种数据的分析/校正/方法及系统、存储介质、磁性编码器,所述数据的分析方法包括:采集所述磁性编码器生成的反馈数据信号;所述反馈数据信号用于反馈一电子设备的运行状况;计算所述反馈数据信号之间的差异;所述反馈数据信号之间的差异包括增益差异和/或偏置差异。本发明所述数据的分析方法/校正方法/系统、存储介质及磁性编码器可以实现增益的修正及增益的准确度,从而提高编码器的解码精度,实现电机旋转速度、电机转子位置的精确测量。 | ||
搜索关键词: | 数据 分析 校正 方法 系统 存储 介质 磁性 编码器 | ||
【主权项】:
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