[发明专利]数据的分析/校正/方法及系统、存储介质、磁性编码器在审

专利信息
申请号: 202011409593.9 申请日: 2020-12-04
公开(公告)号: CN114593754A 公开(公告)日: 2022-06-07
发明(设计)人: 袁卫华 申请(专利权)人: 华大半导体有限公司
主分类号: G01D5/14 分类号: G01D5/14;G01D18/00
代理公司: 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 代理人: 张燕
地址: 201203 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供一种数据的分析/校正/方法及系统、存储介质、磁性编码器,所述数据的分析方法包括:采集所述磁性编码器生成的反馈数据信号;所述反馈数据信号用于反馈一电子设备的运行状况;计算所述反馈数据信号之间的差异;所述反馈数据信号之间的差异包括增益差异和/或偏置差异。本发明所述数据的分析方法/校正方法/系统、存储介质及磁性编码器可以实现增益的修正及增益的准确度,从而提高编码器的解码精度,实现电机旋转速度、电机转子位置的精确测量。
搜索关键词: 数据 分析 校正 方法 系统 存储 介质 磁性 编码器
【主权项】:
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